高壓開關(guān)測試儀的校驗裝置的總體結(jié)構(gòu)主要包括微處理器、交/直流輸入轉(zhuǎn)換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換、識別電路、精密時基電路以及人機(jī)友好界面顯示等部分，在硬件平臺的基礎(chǔ)上，配備的軟件編輯，囊括了計算機(jī)技術(shù)、數(shù)字信號處理技術(shù)、檢測技術(shù)等，能夠的完成對高壓開關(guān)動特性測試儀電量輸出參量、開關(guān)動作時間參量等功能的校驗工作。
由校驗裝置總體結(jié)構(gòu)圖可知，該校驗裝置中主要通過兩個處理通道來完成校驗任務(wù)。一個是將電壓信號輸出送到衰減電路中，然后再送入A/D轉(zhuǎn)換電路中，通過光耦再送到MCU中進(jìn)行運(yùn)算處理，后通過LCD顯示結(jié)果，從而完成對高壓開關(guān)動特性測試儀電量參量的校驗。另外一個開關(guān)動作信號通過輸入電路調(diào)整為本電路相匹配的信號，然后輸送到識別電路，轉(zhuǎn)換成MCU可以識別出的數(shù)字信號，經(jīng)過光耦后由MCU進(jìn)行運(yùn)算處理，對處理后的結(jié)果執(zhí)行相應(yīng)動作，然后對外輸出控制信號，以完成對開關(guān)動作時間參量的校驗。
高壓開關(guān)測試儀在校驗和檢測高壓斷路器動態(tài)特性測試儀的時間基準(zhǔn)、校驗高壓開關(guān)測試儀時間測量功能的相關(guān)應(yīng)用中應(yīng)用廣泛。開關(guān)特性測試儀在使用中遇到常見故障應(yīng)該如何排除？
解決方法：
1、將校準(zhǔn)設(shè)備和被校準(zhǔn)設(shè)備的所有連線斷開；
2、設(shè)備校準(zhǔn)設(shè)備，使其處于“合閘測試中...”，此時，用萬用表的歐姆檔分別檢測校準(zhǔn)設(shè)備斷口A、B、C和斷口地之間的電阻。如果顯示為兆歐以上，表明斷開模擬器合閘狀態(tài)正常，否則表明斷開模擬器出了問題。
3、設(shè)置校準(zhǔn)設(shè)備，使其處于“分閘測試中...”，此時，用萬用表的歐姆檔分別檢測校準(zhǔn)設(shè)備斷口A、B、C和斷口地之間的電阻。如果顯示為1歐，表明斷開模擬器合閘狀態(tài)正常，否則表明斷開模擬器出了問題。
4、如果經(jīng)過上述檢測，校準(zhǔn)設(shè)備正產(chǎn)，那么初步判斷不是校準(zhǔn)設(shè)備的問題。需要仔細(xì)研究被校準(zhǔn)設(shè)備的工作特點。
更新時間：2022-05-19 
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